本期文章由上海禹重实业有限公司讲解荧光光谱仪使用过程中能打开盖子吗。
荧光光谱仪分析的准确度取决于标准样品的准确度、试样的代表性、校准的精度、测量的精度等。基体效应是造成测量误差的重要来源。基体效应是样品自身特点所具有的，在测试中对测量的强度值将有很大的影响。基体效应一般分为：物理—化学效应，包括样品的均匀性、粒度、表面效应和化学态等，可通过制样来消除或降低其对测量结果的影响加以解决；吸收—增应，因x射线受样品中元素吸收和激发而产生，是通常意义所指的基体效应，其影响通过数学法和试验法进行校正。常用的数学校正方法主要有基本参数法、理论系数法和经验系数法等。实验校正法以实验曲线进行定量测定为特性，主要有内标法、外标法、散射标准法、标准加入法等。
下面普及一下测量样品的知识。
x射线荧光荧光光谱仪基本上是一种相对分析方法，需要有相应的标准样品作为测量基准。因此，制样方法的好坏是x射线荧光光谱分析仪应用的关键，标准样品与待测试样应经过同样的制样处理，制成物理性质和化学组成相似的、表面平整均匀、有足够代表性的形式。使用x射线荧光光谱分析的样品一般有固体样品、粉末样品和液体样品等，在实际中常根据试样状态和结果要求，选择操作简便、不影响待测元素、重复性好、精确度高的制样方法。
（1）固体样品
常见的固体样品为金属试样及分布均匀的合金试样等，一般只需经过切割、磨抛、热处理等简单工序，制成一定直径的圆片样品就可以进行分析。处理时，要注意偏析、晶格取向、组分损失的影响和防止磨料、油污的沾污。
（2）粉末样品
常见的粉末样品有矿石、粉尘、炉渣、水泥、合金粉末等，其中大部分可以直接装入样品杯中进行测试，但松散的样品表面状况难以达到一致，存在严重的不均匀性，影响测试结果。目前多采用的制样方法为压片法和熔融法。
我室通常使用压片法制样，使用半自动电动压样机，并采用聚乙烯环镶嵌法，预设加压压力保持在30t左右，压力保持时间10s，匀速缓慢减压制样。所制得的压样片不易吸潮、表面平整光洁、重现性良好。
我室通常用四硼酸锂和偏硼酸锂混合物作为熔剂，、、溴化锂等作为助熔剂和脱模剂，试样按预定质量比混匀，置于95%pt-5%au 合金坩埚中，在高温炉中熔融15min，熔融物在坩埚中自然冷却，脱模成型。所制得的熔样片机械强度好、表面平整光滑、重现性好、易于保存。
（3）液体样品
那些不均匀、不规则金属、合金、矿石等，按标准难以制备固成体、粉末试样，而只能制备成液体，以及本身形态就是液体的试样，这些就是常见液体样品。常使用直接溶液法测定，或经薄样技术制成特殊样片进行分析。
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